Дифракционный структурный анализ. Учебное пособие для СПО
Артикул: p6441142
Купили 20 раз
О товаре
В пособии рассмотрены физические основы кристаллографии, основы теории дифракции на трехмерной решетке (подход Лауэ), методы получения рентгеновского излучения и его основные свойства, основные направления структурного анализа, физические основы динамической теории рассеяния, интегральные методы анализа формы дифракционной линии, методы рентгеновской топографии, рассеяние под малыми углами. В каждую главу включены примеры решения типовых задач по изучаемой теме. В конце каждой главы приведены контрольные вопросы и задания, задачи для самостоятельной работы, а также рекомендуемая литература. В конце пособия помещен ряд приложений, в которых приведены сведения, необходимые для успешного овладения изучаемой дисциплиной. .Соответствует актуальным требованиям Федерального государственного образовательного стандарта среднего профессионального образования и профессиональным требованиям. .Для студентов среднего профессионального образования.
Характеристики
- Раздел:
- Физические науки
- Издательство:
- Юрайт
- ISBN:
- Год издания:
- 2019
- Количество страниц:
- 272
- Переплет:
- Твёрдый переплёт
- Формат:
- 162x245 мм
- Вес:
- 0.46 кг
Отзывов ещё нет — вы можете быть первым.
Дарим до 50 бонусов за отзыв